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[IEEE 1996 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - San Francisco, CA, USA (17-21 June 1996)] 1996 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - Temperature noise constants extraction of mm-wave FETs from measured S- and noise parameters

Abdipour, A., Pacaud, A.
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Volume:
3
Année:
1996
Langue:
english
DOI:
10.1109/mwsym.1996.512274
Fichier:
PDF, 347 KB
english, 1996
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