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[IEEE 2014 15th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT) - Chengdu, China (2014.8.12-2014.8.15)] 2014 15th International Conference on Electronic Packaging Technology - Residual stress measurement of the ground wafer by Raman spectroscopy

Jinglong, Sun, Fei, Qin, Chao, Ren, Zhongkang, Wang, Liang, Tang
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Année:
2014
Langue:
english
DOI:
10.1109/icept.2014.6922785
Fichier:
PDF, 338 KB
english, 2014
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