Secondary electron yield measurements of carbon covered...

Applied Surface Science 2010 Vol. 257; Iss. 2

Secondary electron yield measurements of carbon covered multilayer optics

Juequan Chen, Eric Louis, Jan Verhoeven, Rob Harmsen, Chris J. Lee, Monika Lubomska, Maarten van Kampen, Willem van Schaik, Fred Bijkerk
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Volume:
257
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1016/j.apsusc.2010.06.075
Fichier:
PDF, 528 KB
english, 2010
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