Model of scanning force microscopy on ionic surfaces

Physical Review B 1995 / 10 Vol. 52; Iss. 15

Model of scanning force microscopy on ionic surfaces

Shluger, Alexander L., Rohl, Andrew L., Williams, Richard T., Wilson, R. Mark
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Volume:
52
Langue:
english
Journal:
Physical Review B
DOI:
10.1103/PhysRevB.52.11398
Date:
October, 1995
Fichier:
PDF, 929 KB
english, 1995
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