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[IEEE IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. - Tempe, Arizon, USA (Dec. 5, 2005)] IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. - Vth-tunable CMIS platform with high-k gate dielectrics and variability effect for 45nm node

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Année:
2005
Langue:
english
DOI:
10.1109/iedm.2005.1609505
Fichier:
PDF, 857 KB
english, 2005
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