Method for the study of semiconductor device operation...

Method for the study of semiconductor device operation using scanning capacitance microscopy

Nakakura, C. Y., Tangyunyong, P., Hetherington, D. L., Shaneyfelt, M. R.
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Volume:
74
Année:
2003
Langue:
english
Journal:
Review of Scientific Instruments
DOI:
10.1063/1.1527722
Fichier:
PDF, 698 KB
english, 2003
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