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[IEEE 2011 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2011) - Incheon, Korea (South) (2011.07.4-2011.07.7)] 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) - Non-electrical-contact LSI failure analysis using non-bias laser terahertz emission microscope

Nikawa, Kiyoshi, Yamashita, Masatsugu, Matsumoto, Toru, Otani, Chiko, Tonouchi, Masayoshi, Midoh, Yoshihiro, Miura, Katsuyoshi, Nakamae, Koji
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/ipfa.2011.5992751
Fichier:
PDF, 2.41 MB
english, 2011
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