Detecting FET Stuck-Open Faults in CMOS Latches And...

IEEE Design & Test of Computers 1986 Vol. 3; Iss. 5

Detecting FET Stuck-Open Faults in CMOS Latches And Flip-Flops

Reddy, Madhukar, Reddy, Sudhakar
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Volume:
3
Année:
1986
Langue:
english
Journal:
IEEE Design & Test of Computers
DOI:
10.1109/mdt.1986.295040
Fichier:
PDF, 4.26 MB
english, 1986
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