Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga...

Acta Materialia 2010 Vol. 58; Iss. 20

Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements

Y. Ge, O. Heczko, S.-P. Hannula, S. Fähler
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Volume:
58
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/j.actamat.2010.08.029
Fichier:
PDF, 1.19 MB
english, 2010
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