Gain degradation mechanisms in wafer fused AlGaAs∕GaAs∕GaN...

Applied Physics Letters 2007 Vol. 91; Iss. 6

Gain degradation mechanisms in wafer fused AlGaAs∕GaAs∕GaN heterojunction bipolar transistors

Lian, Chuanxin, Xing, Huili Grace, Wang, Chad S., Brown, David, McCarthy, Lee
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Volume:
91
Année:
2007
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.2766961
Fichier:
PDF, 561 KB
english, 2007
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