Intrafacet migration effects in InGaN∕GaN structures grown...

Applied Physics Letters 2008 Vol. 92; Iss. 12

Intrafacet migration effects in InGaN∕GaN structures grown on triangular GaN ridges studied by submicron beam x-ray diffraction

Bonanno, P. L., O’Malley, S. M., Sirenko, A. A., Kazimirov, A., Cai, Z.-H., Wunderer, T., Brückner, P., Scholz, F.
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Volume:
92
Année:
2008
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.2901142
Fichier:
PDF, 574 KB
english, 2008
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