Electrical and optical characterization of metastable...

Physical Review B 1989 / 8 Vol. 40; Iss. 5

Electrical and optical characterization of metastable deep-level defects in GaAs

Buchwald, W. R., Gerardi, G. J., Poindexter, E. H., Johnson, N. M., Grimmeiss, H. G., Keeble, D. J.
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Volume:
40
Langue:
english
Journal:
Physical Review B
DOI:
10.1103/PhysRevB.40.2940
Date:
August, 1989
Fichier:
PDF, 265 KB
english, 1989
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