High-resolution transmission electron microscopy analysis...

High-resolution transmission electron microscopy analysis of L1[sub 0] ordering process in Fe/Pd thin layers

Kovács, András, Sato, Kazuhisa, Hirotsu, Yoshihiko
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Volume:
102
Année:
2007
Langue:
english
Journal:
Journal of Applied Physics
DOI:
10.1063/1.2826632
Fichier:
PDF, 699 KB
english, 2007
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