studied by x-ray diffraction and resistivity measurements

Physical Review B 2009 / 6 Vol. 79; Iss. 21

studied by x-ray diffraction and resistivity measurements

Rozenberg, G. Kh., Pasternak, M. P., Gorodetsky, P., Xu, W. M., Dubrovinsky, L. S., Le Bihan, T., Taylor, R. D.
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Volume:
79
Langue:
english
Journal:
Physical Review B
DOI:
10.1103/PhysRevB.79.214105
Date:
June, 2009
Fichier:
PDF, 557 KB
english, 2009
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