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[IEEE 2008 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - Hong Kong, China (2008.12.8-2008.12.10)] 2008 IEEE International Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits - High critical electric field of thin silicon film and its realization in SOI high voltage devices

Shengdong Hu,, Bo Zhang,, Zhaoji Li,
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Année:
2008
DOI:
10.1109/edssc.2008.4760648
Fichier:
PDF, 530 KB
2008
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