Atom probe tomography assessment of the impact of electron...

Applied Physics Letters 2011 Vol. 99; Iss. 2

Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1−xN/GaN quantum wells

Bennett, Samantha E, Saxey, David W, Kappers, Menno J, Barnard, Jonathan S, Humphreys, Colin J, Smith, George DW, Oliver, Rachel A
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Volume:
99
Année:
2011
Langue:
english
Journal:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.3610468
Fichier:
PDF, 979 KB
english, 2011
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