Interface reactions in ZrO[sub 2] based gate dielectric stacks
M. A. Gribelyuk, A. Callegari, E. P. Gusev, M. Copel, D. A. BuchananAnnée:
2002
Langue:
english
DOI:
10.1063/1.1486036
Fichier:
PDF, 1.08 MB
english, 2002