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[IEEE 2011 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Washington, DC, USA (2011.12.5-2011.12.7)] 2011 International Electron Devices Meeting - Influence of charge trapping on failure detection and its distributions for nFET high-κ stacks

Wu, Ernest Y., Ioannou, Dimitris P., LaRow, Charles B.
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/iedm.2011.6131577
Fichier:
PDF, 451 KB
english, 2011
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