Edge Effects in Self-Heating-Related Instabilities in...

IEEE Electron Device Letters 2011 / 12 Vol. 32; Iss. 12

Edge Effects in Self-Heating-Related Instabilities in p-Channel Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors

Mariucci, L., Gaucci, P., Valletta, A., Pecora, A., Maiolo, L., Cuscuna, M., Fortunato, G.
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Volume:
32
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/led.2011.2169040
Date:
December, 2011
Fichier:
PDF, 314 KB
english, 2011
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