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[IEEE 2000 International Semiconducting and Insulating Materials Conference. SIMC-XI - Canberra, ACT, Australia (3-7 July 2000)] 2000 International Semiconducting and Insulating Materials Conference. SIMC-XI (Cat. No.00CH37046) - Application of charged insulator defects for the realisation of low-dimensional structures in silicon

Wu, J.E., Gauja, E., Vogl, B., Puzzer, T., Lumpkin, N.E., Dzurak, A.S., Ckark, R.G., Aberle, A.G.
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Année:
2000
Langue:
english
DOI:
10.1109/sim.2000.939229
Fichier:
PDF, 269 KB
english, 2000
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