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[IEEE 2012 4th IEEE International Memory Workshop (IMW) - Milan, Italy (2012.05.20-2012.05.23)] 2012 4th IEEE International Memory Workshop - Understanding of Trap-Assisted Tunneling Current - Assisted by Oxygen Vacancies in RuOx/SrTiO3/TiN MIM Capacitor for the DRAM Application

Kim, M.-S., Kaczer, B., Starschich, S., Popovici, M., Swerts, J., Richard, O., Tomida, K., Vrancken, C., Van Elshocht, S., Debusschere, I., Altimime, L., Kittl, J. A.
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Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1109/imw.2012.6213661
Fichier:
PDF, 706 KB
english, 2012
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