Statistical theory of fatigue in ferroelectric devices

Integrated Ferroelectrics 1992 / 07 Vol. 1; Iss. 2-4

Statistical theory of fatigue in ferroelectric devices

De Araujo, C. A. Paz, Zuleeg, R., Mihara, T., Watanabe, H., Carrico, A., McMillan, L. D., Scott, J. F.
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Volume:
1
Langue:
english
Journal:
Integrated Ferroelectrics
DOI:
10.1080/10584589208215719
Date:
July, 1992
Fichier:
PDF, 492 KB
english, 1992
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