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Radiation induced leakage current and stress induced...

IEEE Transactions on Nuclear Science 1998 / Dec. Vol. 45; Iss. 6

Radiation induced leakage current and stress induced leakage current in ultra-thin gate oxides

Ceschia, M., Paccagnella, A., Cester, A., Scarpa, A., Ghidini, G.
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Volume:
45
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/23.736457
Date:
January, 1998
Fichier:
PDF, 863 KB
english, 1998
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