Complementary neutron and X-ray reflectivity for structural...

Complementary neutron and X-ray reflectivity for structural characterization of porous thin films

Yu-Shan Huang, U-Ser Jeng, Chia-Hung Hsu, Naoya Torikai, Hsin-Yi Lee, Kwanwoo Shin, Masahiro Hino
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Volume:
385-386
Année:
2006
Langue:
english
Pages:
3
DOI:
10.1016/j.physb.2006.06.122
Fichier:
PDF, 213 KB
english, 2006
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