[IEEE ICMTS 92 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures - San Diego, CA, USA (16-19 March 1992)] ICMTS 92 Proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures - Three-dimensional effects of latchup turn-on CMOS and forward-biased n/sup +/-diode measured by photoemission

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