The behavior of SrBi 2 Ta...

Integrated Ferroelectrics 2001 / 01 Vol. 32; Iss. 1-4

The behavior of SrBi 2 Ta 2 O 9 thin films as memory cells under applied stress

Lü, Xiaomei, Zhu, Jingsong, Zhang, Xuesong, Wu, Di, Liu, Zhiguo, Wang, Yenning
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Volume:
32
Langue:
english
Journal:
Integrated Ferroelectrics
DOI:
10.1080/10584580108215677
Date:
January, 2001
Fichier:
PDF, 331 KB
english, 2001
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