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[IEEE 2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS) - Maui, HI, USA (2012.04.23-2012.04.25)] 2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS) - Smart selection of indirect parameters for DC-based alternate RF IC testing

Ayari, Haithem, Azais, Florence, Bernard, Serge, Comte, Mariane, Renovell, Michel, Kerzerho, Vincent, Potin, Olivier, Kelma, Christophe
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Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1109/vts.2012.6231074
Fichier:
PDF, 681 KB
english, 2012
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