Comparison of Electrical Properties and Bias Stability of...

IEEE Electron Device Letters 2012 / 06 Vol. 33; Iss. 6

Comparison of Electrical Properties and Bias Stability of Double-Gate a-HIZO TFTs According to TFT Structure

Lee, Young Wook, Kim, Sun-Jae, Lee, Soo-Yeon, Lee, Woo-Geun, Yoon, Kap-Soo, Lee, Hyun-Jung, Oh, Ji-Soo, Park, Jae-Woo, Han, Min-Koo
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Volume:
33
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/led.2012.2190262
Date:
June, 2012
Fichier:
PDF, 490 KB
english, 2012
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