DLTS study of deep level defects in Li-ion irradiated...

DLTS study of deep level defects in Li-ion irradiated bipolar junction transistor

K.V. Madhu, S.R. Kulkarni, M. Ravindra, R. Damle
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Volume:
254
Année:
2007
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/j.nimb.2006.10.063
Fichier:
PDF, 232 KB
english, 2007
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