Finite Element Analysis of Inductor Core Loss Under DC Bias...

IEEE Transactions on Power Electronics 2013 / 09 Vol. 28; Iss. 9

Finite Element Analysis of Inductor Core Loss Under DC Bias Conditions

Mu, Mingkai, Zheng, Feng, Li, Qiang, Lee, Fred C.
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Volume:
28
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Power Electronics
DOI:
10.1109/tpel.2012.2235465
Date:
September, 2013
Fichier:
PDF, 966 KB
english, 2013
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