Analysis of the Voltage Swing for Logic and Memory...

IEEE Transactions on Nanotechnology 2007 / 03 Vol. 6; Iss. 2

Analysis of the Voltage Swing for Logic and Memory Applications in Si/SiGe Resonant Interband Tunnel Diodes Grown by Molecular Beam Epitaxy

Chung, Sung-Yong, Jin, Niu, Pavlovicz, Ryan E., Yu, Ronghua, Berger, Paul R., Thompson, Phillip E.
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Volume:
6
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions On Nanotechnology
DOI:
10.1109/tnano.2007.891831
Date:
March, 2007
Fichier:
PDF, 953 KB
english, 2007
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