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[IEEE 2011 IEEE 17th International On-Line Testing Symposium (IOLTS 2011) - Athens, Greece (2011.07.13-2011.07.15)] 2011 IEEE 17th International On-Line Testing Symposium - Variations of fault manifestation during Burn-In — A case study on industrial SRAM test results

Linder, Michael, Eder, Alfred, Oberlander, Klaus, Huch, Martin
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/iolts.2011.5993848
Fichier:
PDF, 177 KB
english, 2011
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