SEU and latchup tolerant advanced CMOS technology

IEEE Transactions on Nuclear Science 1990 / Dec. Vol. 37; Iss. 6

SEU and latchup tolerant advanced CMOS technology

Koga, R., Crawford, K.B., Hansel, S.J., Johnson, B.M., Lau, D.D., Penzin, S.H., Pinkerton, S.D., Maher, M.C.
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Volume:
37
Langue:
english
Journal:
IEEE Transactions on Nuclear Science
DOI:
10.1109/23.101203
Date:
January, 1990
Fichier:
PDF, 476 KB
english, 1990
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