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[IEEE IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures - Long Beach, CA (February 22-23, 1988)] Proceedings of the IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures - A Fully Analytical MOSFET Model Parameter Extraction Approach

Tuinhout, H.P., Swaving, S., Joosten, J.J.M.
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Année:
1988
Langue:
english
DOI:
10.1109/icmts.1988.672933
Fichier:
PDF, 557 KB
english, 1988
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