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[IEEE 2010 NORCHIP - Tampere, Finland (2010.11.15-2010.11.16)] NORCHIP 2010 - High-level design error diagnosis using backtrace on decision diagrams

Raik, Jaan, Repinski, Urmas, Ubar, Raimund, Jenihhin, Maksim, Chepurov, Anton
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Année:
2010
Langue:
english
DOI:
10.1109/norchip.2010.5669486
Fichier:
PDF, 292 KB
english, 2010
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