[IEEE 2011 Semiconductor Conference Dresden (SCD) -...

[IEEE 2011 Semiconductor Conference Dresden (SCD) - Dresden, Germany (2011.09.27-2011.09.28)] 2011 Semiconductor Conference Dresden - Reliability investigations on stacked chip on MEMS

Kaulfersch, Eberhard, Winkler, Thomas, Bramer, Birgit, Hammacher, Jens

Avez-vous aimé ce livre?

Quelle est la qualité du fichier téléchargé?

Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité

Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?

Année:

2011

Langue:

english

DOI:

10.1109/scd.2011.6068761

Fichier:

PDF, 2.87 MB

english, 2011

La conversion en est effectuée

La conversion en a échoué