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[IEEE 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) - Annecy, France (2012.05.28-2012.05.31)] 2012 17TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS) - BIST design for analog cell matching

Duarte, Candido, Cavadas, Henrique, Coke, Pedro, Malheiro, Luis, Tavares, Vitor Grade, de Oliveira, Pedro Guedes
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Année:
2012
Langue:
english
DOI:
10.1109/ets.2012.6233008
Fichier:
PDF, 363 KB
english, 2012
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