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[IEEE 2011 International Conference of Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC) - Tianjin, China (2011.11.17-2011.11.18)] 2011 IEEE International Conference of Electron Devices and Solid-State Circuits - Effects of non-uniform grains distribution of the intrinsic n-channel polycrystalline silicon TFTs

Ren, Yicheng, Han, Dedong, Sun, Lei, Du, Gang, Zhang, Shengdong, Liu, Xiaoyan, Wang, Yi
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Année:
2011
Langue:
english
DOI:
10.1109/edssc.2011.6117673
Fichier:
PDF, 544 KB
english, 2011
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