Spectroscopic studies of Nd3+-doped silicon-rich silicon oxide films
D. Bréard, F. Gourbilleau, C. Dufour, R. Rizk, J.-L. Doualan, P. CamyVolume:
146
Année:
2008
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.mseb.2007.07.107
Fichier:
PDF, 374 KB
english, 2008