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[IEEE 2008 58th Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2008) - Lake Buena Vista, FL, USA (2008.05.27-2008.05.30)] 2008 58th Electronic Components and Technology Conference - Influence of optical probe packaging on a 3D MEMS scanning micro-mirror for optical coherence tomography (OCT) applications

Premachandran, C.S., Khairyanto, Ahmad, Chen, Kelvin, Jank Singh,, Wang, Sandy X.L., Xu Yingshun,, Chen Nanguang,, Sheppard, C.J.R., Olivo, Malini, Lau, John
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Année:
2008
Langue:
english
DOI:
10.1109/ectc.2008.4550072
Fichier:
PDF, 739 KB
english, 2008
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