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[IEEE IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - Singapore (7-11 July 2003)] Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2003 - The effect of CHE and CHISEL programming operation on drain disturb in flash EEPROMs

Nair, D.R., Mohapatra, N.R., Mahapatra, S., Shukuri, S., Bude, J.
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Année:
2003
Langue:
english
DOI:
10.1109/ipfa.2003.1222758
Fichier:
PDF, 251 KB
english, 2003
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