NBTI and hot carrier effect of Schottky-barrier p-MOSFETs

Microelectronics Reliability 2010 Vol. 50; Iss. 9-11

NBTI and hot carrier effect of Schottky-barrier p-MOSFETs

Jin-Young Kim, Jun-Seok Oh, Won-Ju Cho, Jong Tae Park
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Volume:
50
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2010.07.084
Fichier:
PDF, 820 KB
english, 2010
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