ESD protection for thin gate oxides in 65 nm
Guido Notermans, Theo Smedes, Željko Mrčarica, Peter de Jong, Ralph Stephan, Hans van Zwol, Dejan MaksimovicVolume:
50
Année:
2010
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/j.microrel.2009.09.010
Fichier:
PDF, 658 KB
english, 2010