Accelerated active ageing test on SiC JFETs power module...

Accelerated active ageing test on SiC JFETs power module with silver joining technology for high temperature application

L. Dupont, G. Coquery, K. Kriegel, A. Melkonyan
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Volume:
49
Année:
2009
Langue:
english
Pages:
6
DOI:
10.1016/j.microrel.2009.07.050
Fichier:
PDF, 1.83 MB
english, 2009
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