A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide...

Microelectronics Reliability 2009 Vol. 49; Iss. 8

A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range

R. Fernández-García, B. Kaczer, G. Groeseneken
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Volume:
49
Année:
2009
Langue:
english
Pages:
7
DOI:
10.1016/j.microrel.2009.05.009
Fichier:
PDF, 1.58 MB
english, 2009
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