Evaluation of RF electrostatic discharge (ESD) protection...

Microelectronics Reliability 2008 Vol. 48; Iss. 7

Evaluation of RF electrostatic discharge (ESD) protection in 0.18-μm CMOS technology

Xiaoyang Du, Shurong Dong, Yan Han, Juin J. Liou, Mingxu Huo, You Li, Qiang Cui, Dahai Huang, Demiao Wang
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Volume:
48
Année:
2008
Langue:
english
Pages:
5
DOI:
10.1016/j.microrel.2008.04.005
Fichier:
PDF, 360 KB
english, 2008
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