Determining factors affecting ESD failure voltage using DOE

Microelectronics Reliability 2006 Vol. 46; Iss. 8

Determining factors affecting ESD failure voltage using DOE

Charles Whitman, Terri M. Gilbert, Ann M. Rahn, Jennifer A. Antonell
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Volume:
46
Année:
2006
Langue:
english
Pages:
10
DOI:
10.1016/j.microrel.2006.02.007
Fichier:
PDF, 233 KB
english, 2006
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