Investigation of charging mechanisms in...

Microelectronics Reliability 2005 Vol. 45; Iss. 9-11

Investigation of charging mechanisms in metal-insulator-metal structures

M. Exarchos, V. Theonas, P. Pons, G.J. Papaioannou, S. Melle, D. Dubuc, F. Cocetti, R. Plana
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Volume:
45
Année:
2005
Langue:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2005.07.094
Fichier:
PDF, 315 KB
english, 2005
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