Drain-Bias Dependence of Threshold Voltage Stability of...

IEEE Electron Device Letters 2004 / 04 Vol. 25; Iss. 4

Drain-Bias Dependence of Threshold Voltage Stability of Amorphous Silicon TFTs

Karim, K.S., Nathan, A., Hack, M., Milne, W.I.
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Volume:
25
Langue:
english
Journal:
IEEE Electron Device Letters
DOI:
10.1109/led.2004.825154
Date:
April, 2004
Fichier:
PDF, 112 KB
english, 2004
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