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[IEEE 2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) - New York City, NY, USA (2013.10.2-2013.10.4)] 2013 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) - Synthesis of workload monitors for on-line stress prediction

Baranowski, Rafal, Cook, Alejandro, Imhof, Michael E., Liu, Chang, Wunderlich, Hans-Joachim
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Année:
2013
Langue:
english
DOI:
10.1109/dft.2013.6653596
Fichier:
PDF, 805 KB
english, 2013
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